歡迎光臨東莞環(huán)儀儀器有限公司官網(wǎng)！專(zhuān)業(yè)（可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱）、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱及VOC環(huán)境艙廠(chǎng)家。
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混合集成電路DC-DC轉(zhuǎn)換器，是電子設(shè)備的核心部分。按照篩選要求，需要進(jìn)行高低溫測(cè)試。即在指定的工作溫度下，測(cè)試DC-DC轉(zhuǎn)換器電性能特性。下面，我們應(yīng)用冷熱沖
軍用單片集成電路是軍用電子設(shè)備的核心部分。按照軍用環(huán)境應(yīng)用條件要求需要進(jìn)行高低溫測(cè)試， 溫度范圍為-55~125℃。下面，通過(guò)用溫度沖擊氣流試驗(yàn)儀，來(lái) 看看對(duì)軍
高低溫氣流循環(huán)沖擊機(jī)能提供-80℃~+225℃的溫度沖擊范圍，以及高達(dá)18 SCFM的氣流速度。設(shè)備可提供手動(dòng)操作與程序操作兩種操作模式，可用于從傳統(tǒng)半導(dǎo)體測(cè)試
為提高柵格陣列封裝(LGA)焊點(diǎn)可靠性，研發(fā)生產(chǎn)過(guò)程中會(huì)用到罩式冷熱氣流沖擊測(cè)試機(jī)對(duì)其做可靠性分析，下面我們進(jìn)行熱沖擊條件下LGA焊點(diǎn)可靠性分析，分析了LGA焊
編輯 | 環(huán)儀儀器罩式腔室高低溫氣流測(cè)試機(jī)主要用于檢測(cè)機(jī)械和電子產(chǎn)品及其關(guān)鍵元器件在耐寒、溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性、耐久性或其結(jié)構(gòu)上的缺陷。根據(jù)檢測(cè)要求
罩式腔室冷熱循環(huán)沖擊測(cè)試機(jī)是一種用于對(duì)機(jī)械和電子產(chǎn)品進(jìn)行高低溫交變沖擊檢驗(yàn)的實(shí)驗(yàn)設(shè)備，能夠提供交變的高低溫環(huán)境，主要用于檢測(cè)機(jī)械和電子產(chǎn)品及其關(guān)鍵元器件在耐寒、
硅通孔互連技術(shù)（TSV） 生電力芯片封裝中廣泛應(yīng)用。TSV可靠性研究尚不成熟，下面我們使用超快速氣流冷熱沖擊機(jī)，對(duì)TSV樣品經(jīng)過(guò)冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)后，使用 FIB 對(duì)
超快速溫度沖擊試驗(yàn)機(jī)能夠在較短時(shí)間內(nèi)利用氮?dú)鈱?duì)元器件、零部件或成品進(jìn)行熱沖擊，提供溫度變化試驗(yàn)條件，模擬極端環(huán)境溫度變化。而光模塊的研發(fā)生產(chǎn)過(guò)程中，則需要用到超
