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以往半導(dǎo)體廠商依據(jù)ICE標(biāo)準(zhǔn)(85%rh相對(duì)濕度85℃熱環(huán)境)對(duì)半導(dǎo)體元件進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間(>1000hrs)靜態(tài)老化,使其失效周期加速顯現(xiàn)。JESD22-A110高
隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展。半導(dǎo)體元器件作為組成各種電子電路的核心元件,不斷應(yīng)用于各種嚴(yán)酷惡劣的環(huán)境。為了模擬更嚴(yán)酷的條件來縮短測(cè)試周期和即時(shí)的電氣特性跟蹤監(jiān)控的方
JESD22高加速應(yīng)力試驗(yàn)箱用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件(固態(tài)設(shè)備)在高溫高濕條件下的運(yùn)行可靠性,對(duì)芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進(jìn)行溫濕度偏壓(不偏壓)高加速應(yīng)力壽