美軍標(biāo)MIL-STD-2164 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選方法，是提高電子產(chǎn)品可靠性的必要手段，在該試驗方法中，主要用到的試驗設(shè)備為“快速溫度變化試驗箱”，下面，我們來了解一下該試驗方法。

MIL-STD-2164中的電子產(chǎn)品環(huán)境應(yīng)力篩選方法：

1.適用樣品：

研制階段和批生產(chǎn)初期的電子產(chǎn)品(可以是印制板組件、單元或整機，但不適于元器件);在批量生產(chǎn)中、后期可據(jù)產(chǎn)品批量大小及質(zhì)量穩(wěn)定情況采用抽樣或簡化篩選方案。

2.試驗設(shè)備：快速溫度變化試驗箱

3.設(shè)備型號：HYQT系列

4.設(shè)備商：環(huán)儀儀器

5.試驗要求：

a.高低溫度限取產(chǎn)品的工作極限溫度，對不 通 電狀態(tài)篩選，則可取產(chǎn)品的非工作極限溫度(貯存溫度)。

b.高低溫保持時間由產(chǎn)品典型試驗確定，為產(chǎn)品典型測量點均值達到高(或低)溫極限的時間與箱內(nèi)空氣測量點均值達到高(或低)溫極限值的時間之差。

c.變溫率應(yīng)大于5℃/min

d.循環(huán)次數(shù)為12個循環(huán)(相應(yīng)于循環(huán)周期3小時20分)，或10個循環(huán)(相當(dāng)于循環(huán)周期4小時)，使兩種情況下的溫循篩選總時間均為40小時。

e.對無故障檢驗，則為40~ 80小時，相應(yīng)于循環(huán)次數(shù)10~ 20或12~ 24。